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為什么要進(jìn)行模擬環(huán)境測(cè)試

日期:2024-11-15 21:11
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摘要:模擬環(huán)境測(cè)試
為什么要進(jìn)行模擬環(huán)境測(cè)試


科技的飛速發(fā)展和高科技產(chǎn)品的出現(xiàn)日新月異.商品流通的愈加邊界.使得產(chǎn)品的銷售區(qū)域范圍越來(lái)越大. 那么產(chǎn)品能否在大多數(shù)地區(qū)正常使用而對(duì)功能不造成影響, 對(duì)產(chǎn)品自身不造成損壞,這就需要對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)來(lái)了解產(chǎn)品能否適應(yīng)需要的使用環(huán)境是否出現(xiàn)問題。
因此在選擇試驗(yàn)項(xiàng)目的時(shí)候. 應(yīng)該對(duì)試驗(yàn)物品的使用環(huán)境要求有一個(gè)具體的分析. 應(yīng)保證所選擇的測(cè)試項(xiàng)目既可以代表主要的使用環(huán)境. 又可以加快試驗(yàn)速度. 減少經(jīng)費(fèi)開支。
至今. 各主流國(guó)家已經(jīng)將環(huán)境測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)化. 很多國(guó)家也同時(shí)制定了環(huán)境測(cè)試標(biāo)準(zhǔn). 總體來(lái)講這些標(biāo)準(zhǔn)大部分相近. 主要包括以下幾個(gè)項(xiàng)目:

一. 高低溫試驗(yàn) 高溫試驗(yàn)用于測(cè)試設(shè)備在高溫但不直接受到陽(yáng)光照射的環(huán)境中造成的影響. 主要模擬設(shè)備在散熱**的空間或接近發(fā)動(dòng)機(jī)等高熱源處放置和     使用的情況. 試驗(yàn)的目的是測(cè)試產(chǎn)品在高溫環(huán)境中儲(chǔ)藏和使用的性能; 低溫試驗(yàn) 低溫試驗(yàn)顧名思義即為了模擬產(chǎn)品/設(shè)備在低溫環(huán)境中儲(chǔ)藏.使用時(shí)的情     況. 在成品前杜絕相應(yīng)問題. 以我國(guó)為例. 東北吉林和黑龍江地區(qū)在冬季時(shí)室外溫度可達(dá)-20度以下. 因此大多數(shù)產(chǎn)品都有必要進(jìn)行低溫測(cè)試以保證其在北    方寒冷氣候地區(qū)可以正常使用。

二. 冷熱沖擊試驗(yàn) 冷熱沖擊試驗(yàn)主要用于模擬產(chǎn)品/設(shè)備/武器能否經(jīng)受極迅速的溫度變化. 如高空空投的武器. 在寒冷和炎熱地區(qū)在室內(nèi)外間轉(zhuǎn)移的產(chǎn)品. 都     有必要進(jìn)行冷熱沖擊試驗(yàn)以保證其正常性能不因溫度的急劇變化而降低。
三. 太陽(yáng)輻照試驗(yàn) 太陽(yáng)輻照試驗(yàn)是對(duì)暴露在陽(yáng)光直接照射下的物件和材料進(jìn)行的試驗(yàn). 太陽(yáng)輻照可對(duì)材料引起光化學(xué)反應(yīng)和熱效應(yīng). 通過太陽(yáng)輻照試驗(yàn)可以      測(cè)定露天使用和存儲(chǔ)條件下對(duì)產(chǎn)品/設(shè)備的影響。
四. 濕熱試驗(yàn) 濕熱試驗(yàn)也稱防潮試驗(yàn). 主要用于模擬產(chǎn)品/設(shè)備在中低緯度地區(qū)溫暖潮濕環(huán)境中使用時(shí)的問題. 濕熱試驗(yàn)幾乎是一項(xiàng)必須的產(chǎn)品試驗(yàn). 因在整      個(gè)亞洲地區(qū).除北部?jī)?nèi)陸地區(qū)外 包括日本韓國(guó)和中國(guó)長(zhǎng)江流域和長(zhǎng)江以南的絕大部分地區(qū)在一年當(dāng)中都有或長(zhǎng)或短的暖濕季節(jié)。

五. 砂塵試驗(yàn) 該試驗(yàn)主要用于檢測(cè)產(chǎn)品/設(shè)備 在室外塵土含量較高的空氣中使用時(shí)會(huì)出現(xiàn)的問題. 我國(guó)的空氣污染程度很高. 所有的露天室外使用設(shè)備均有 必要進(jìn)行砂塵試驗(yàn)已保證其耐用性和提高產(chǎn)品質(zhì)量。

六. 鹽霧試驗(yàn) 沿海地區(qū)的空氣中鹽分含量是較高的 含鹽的暖濕空氣會(huì)對(duì)一切處于該環(huán)境中的產(chǎn)品/設(shè)備造成腐蝕. 鹽霧試驗(yàn)的目的是為了檢測(cè)產(chǎn)品/設(shè)備在含      鹽的潮濕環(huán)境中使用時(shí)對(duì)保護(hù)層材料和產(chǎn)品內(nèi)部電路的影響。


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